無(wú)損檢測(cè)相關(guān)知識(shí)介紹

什么是無(wú)損探傷?

為了保證產(chǎn)品質(zhì)量和設(shè)備安全運(yùn)行，必須對(duì)產(chǎn)品和設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)。-般把檢驗(yàn)分為破壞性檢驗(yàn)和無(wú)損檢驗(yàn)兩大類。

損傷或破壞被檢驗(yàn)對(duì)象來(lái)檢測(cè)材料或產(chǎn)品性能質(zhì)量的方法，稱為破壞性檢驗(yàn)。如機(jī)械性能試驗(yàn)、化學(xué)成分分析、金相分析、爆破試驗(yàn)等。

在不損傷或不破壞被檢對(duì)象的前提下，利用聲、光、電、磁等方法，來(lái)檢測(cè)材料、工件的內(nèi)部或表面缺陷，檢測(cè)材料的物理性質(zhì)、機(jī)械性能及材料厚度的檢驗(yàn)方法，叫做無(wú)損檢測(cè)。凡以檢測(cè)材料、工件和焊縫的內(nèi)部或表面缺陷為主要目的無(wú)損檢測(cè)，叫做無(wú)損探傷。常用的無(wú)損探傷方法有：

（1）射線探傷，英文縮寫(xiě)符號(hào)RT；

（2）超聲波探傷，英文縮寫(xiě)符號(hào)UT；

（3）磁粉探傷，英文縮寫(xiě)符號(hào)MT；

（4）滲透探傷，英文縮寫(xiě)符號(hào)PT；

（5）渦流探傷，英文縮寫(xiě)符號(hào)ET。

值得注意的是，每一種無(wú)損探傷方法都有其獨(dú)立性，并按其特殊的工作方法進(jìn)行。都有其最適宜的探傷對(duì)象、適宜的范圍和場(chǎng)合，也均有各自的特點(diǎn)和不足之處。只有充分發(fā)揮各種方法的特長(zhǎng)，根據(jù)被探傷對(duì)象的特性、檢驗(yàn)?zāi)康募耙?，合理地選擇一種或多種探傷方法，配合使用，取長(zhǎng)補(bǔ)短，才能獲得最佳的探傷效果。

射線檢測(cè)

1．什么是射線檢測(cè)？

作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的射線檢測(cè)（Radiology），在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。目前射線檢測(cè)按照美國(guó)材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)（ASTM）的定義可以分為：照相檢測(cè)、實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、層析檢測(cè)和其它射線檢測(cè)技術(shù)四類。

X射線與自然光并沒(méi)有本質(zhì)的區(qū)別，都是電磁波，只是X射線的光量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光。它能夠穿透可見(jiàn)光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時(shí)將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，可以使原子發(fā)生電離，使某些物質(zhì)發(fā)出熒光，還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部區(qū)域存在缺陷，它將改變物體對(duì)射線的衰減，引起透射射線強(qiáng)度的變化，這樣，采用一定的檢測(cè)方法，比如利用膠片感光，來(lái)檢測(cè)透射線強(qiáng)度，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小。 　　ΔI/I=-(（μ-μ’）ΔT)/(1+n) 　　這個(gè)公式就是射線檢測(cè)基本原理的關(guān)系式，ΔI/I稱為物體對(duì)比度，(I是射線強(qiáng)度，μ是線衰減系數(shù)，ΔT是射線照射方向上的厚度差，n是散射比)從它我們可以得知，只要缺陷在透射方向上具有一定的尺寸、其衰減系數(shù)與物體的線衰減系數(shù)具有一定差別，并且散射比控制在一定范圍，我們就能夠獲得由于缺陷存在而產(chǎn)生的對(duì)比度，從而發(fā)現(xiàn)缺陷。

利用射線（X射線、γ射線、中子射線等）穿過(guò)材料或工件時(shí)的強(qiáng)度衰減，檢測(cè)其內(nèi)部結(jié)構(gòu)不連續(xù)性的技術(shù)稱為射線檢測(cè)。

穿過(guò)材料或工件的射線由于強(qiáng)度不同在X射線膠片上的感光程度也不同，由此生成 內(nèi)部不連續(xù)的圖象。

圖1是射線穿過(guò)工件時(shí)的強(qiáng)度衰減；圖2是X射線機(jī)和γ射線儀；圖3、圖4是射線底片。

圖1    射線檢測(cè)示意圖

圖2   X射線機(jī)和γ射線儀

圖3 焊縫的X射線底片（有氣孔、夾渣等缺陷）               圖4  鑄件底片

2．射線檢測(cè)方法有哪些？

射線檢測(cè)通常根據(jù)內(nèi)部結(jié)構(gòu)顯示方法不同可分為：射線照相法、熒光屏法（發(fā)展為工業(yè)電視）、干板照相法、層析攝影（工業(yè)CT）技術(shù)、數(shù)字顯示技術(shù)等。

3．射線檢測(cè)有哪些透照方法？

射線檢測(cè)對(duì)不同的結(jié)構(gòu)（如焊縫）有以下幾種透照位置

4、射線檢測(cè)種類

X射線檢測(cè) 　　γ射線檢測(cè) 　　β射線檢測(cè) 　　α射線檢測(cè)等

5、射線檢測(cè)方式

固定式 　　移動(dòng)式

6、射線檢測(cè)工藝分類

1）、膠片成像工藝 　　即射線照射被檢測(cè)物體，透過(guò)的射線使膠片感光，清洗膠片，即可根據(jù)膠片的感光情況判斷被檢測(cè)物的內(nèi)部質(zhì)量。這類似于我們?nèi)梭w在醫(yī)院做拍片檢查。

2）、.數(shù)字成像工藝 　　經(jīng)過(guò)射線檢測(cè)，將被檢測(cè)物的內(nèi)部質(zhì)量信息轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號(hào)，儲(chǔ)存或還原顯示出來(lái)。以反映被檢測(cè)物的內(nèi)部質(zhì)量情況。

7、射線檢測(cè)的利弊

利：不損傷被檢物，方便實(shí)用，可達(dá)到其他檢測(cè)手段無(wú)法達(dá)到的獨(dú)特檢測(cè)效果，使用面寬，底片長(zhǎng)期存檔備查，便于分析事故，可以直觀的顯示缺陷圖像等。 　　弊；對(duì)人體有副作用甚至一定傷害，對(duì)其他敏感物體有不良作用，對(duì)環(huán)境有輻射污染。

8、X射線探傷機(jī)相關(guān)符號(hào)的介紹

符號(hào)                                    表示方法

XXQ                                   定向、玻璃管

XXH                                   周向錐靶、玻璃管

XXHP                                  周向平靶、玻璃管

XXG                                   定向、陶瓷管

XXGHZ                                周向錐靶、陶瓷管

XXGHP                                 周向平靶、陶瓷管

XG                                    實(shí)時(shí)成像

時(shí)代產(chǎn)品型號(hào)：

TIME®9500(XXG-2005)     200KV,5mA  定向，最大穿透能力25mm

TIME®9503(XXG-2005P)   200KV,5mA  周向平靶，最大穿透能力25mm

TIME®9506(XXG-2005Z)   200KV,5mA  周向錐靶，最大穿透能力25mm

TIME®9501(XXG-2505)     250KV,5mA  定向，最大穿透能力35mm

TIME®9504(XXG-2505P)   250KV,5mA  周向平靶，最大穿透能力35mm

TIME®9507(XXG-2505Z)   250KV,5mA  周向錐靶，最大穿透能力35mm

TIME®9502(XXG-3005)     300KV,5mA  定向，最大穿透能力45mm

TIME®9505(XXG-3005P)   300KV,5mA  周向平靶，最大穿透能力45mm

TIME®9508(XXG-3005Z)   300KV,5mA  周向錐靶，最大穿透能力45mm

以上穿透能力是指在Fe條件下焦距為600mm

9、如何選型

1）應(yīng)根據(jù)被測(cè)零件的材料，外形形狀，工藝要求，雙透或單透，母材厚度，焊縫厚度

2）型號(hào)選擇=（工件厚度+焊縫堆高）*0.8

3）環(huán)縫一般選用周向，直縫一般選用定向

4）現(xiàn)場(chǎng)操作一般選擇陶瓷管

5）批量探傷、鋁制產(chǎn)品可選擇實(shí)時(shí)成像

10、相關(guān)耗材的選用

1）探傷用耗材：工業(yè)膠片，鉛泊增感屏，鉛字，洗片夾，暗合，透度計(jì)，顯定影粉、磁鋼，射線報(bào)警儀

2）暗房用器材：觀片燈，黑度計(jì)，膠片干躁箱，暗房三色燈，暗室定時(shí)器，安全紅燈，裁紙刀，射線標(biāo)定尺，評(píng)片尺等。